1、IEC60747-5半導(dǎo)體分立器件及集成電路(1992);
2、IEC60747-5-2半導(dǎo)體分立器件及集成電路零部件,5-2:光電子器件--分類特征及要素(1997-09);
3、IEC60747-5-3半導(dǎo)體分立器件及集成電路,5-3:光電子器件--測(cè)試方法(1997-08);
4、IEC60747-12-3半導(dǎo)體分立器件,12-3:光電子器件-顯示用發(fā)光二極管空白詳細(xì)標(biāo)準(zhǔn)(1998-02);
5、CIE127-1997LED測(cè)試方法(1997);
6、CIE/ISOLED強(qiáng)度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
國(guó)際照明委員會(huì)(CIE)1997年發(fā)表的CIE127-1997LED測(cè)試方法,把LED強(qiáng)度測(cè)試確定為平均強(qiáng)度的概念,并且規(guī)定了統(tǒng)一的測(cè)試結(jié)構(gòu)和探測(cè)器大小,為L(zhǎng)ED的準(zhǔn)確測(cè)試比對(duì)奠定了基礎(chǔ)。雖然CIE127-1997測(cè)試方法并非國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),但它容易實(shí)施準(zhǔn)確測(cè)試比對(duì),目前世界上主要企業(yè)都已采用。但是隨著技術(shù)的快速發(fā)展,許多新的LED技術(shù)特性在CIE127-1997LED測(cè)試方法中沒(méi)有涉及。
燈箱IEC報(bào)告辦理找環(huán)測(cè)威檢測(cè)公司,cnas授權(quán)的產(chǎn)品測(cè)試實(shí)驗(yàn)室,如需要辦理燈箱IEC報(bào)告請(qǐng)來(lái)電聯(lián)系咨詢了解:400—8707-283